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冷熱沖擊試驗(yàn)箱的用途
冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫、濕熱及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。
該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕及其循環(huán)變化條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱型號(hào)與規(guī)格：
型號(hào)：TS-80 工作室尺寸：40×50×40 箱體尺寸：120×165×115
型號(hào)：TS-150 工作室尺寸：50×60×50 箱體尺寸：130×170×125
型號(hào)：TS-225 工作室尺寸：60×75×50 箱體尺寸：140×185×130
型號(hào)：TS-408 工作室尺寸：60×85×80 箱體尺寸：165×195×155
型號(hào)：TS-800 工作室尺寸：100×100×80 箱體尺寸：185×200×175
型號(hào)：TS-1000 工作室尺寸：100×100×100 箱體尺寸：190×210×185
冷熱沖擊試驗(yàn)箱的主要技術(shù)指標(biāo)
1.溫度范圍：-20℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃、-80℃～+100(150)℃
2.濕度范圍：30%～98%RH
3.溫度波動(dòng)度：±0.5℃
4.溫度偏差：≤2℃
5.濕度偏差：+2-3 %RH
6.升降溫速率：0.7～1℃/min
冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備的安全保護(hù)裝置
1.電源超載、短路保護(hù)
2.接地保護(hù)
3.超溫保護(hù)
4.缺水保護(hù)
5.壓縮過(guò)壓、過(guò)載保護(hù)
6.為保護(hù)設(shè)備,所有報(bào)警均會(huì)自動(dòng)切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備的使用現(xiàn)場(chǎng)的條件
1.溫度：15℃~35℃
2.相對(duì)濕度：不大于85%RH
3.周圍無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)烈電磁場(chǎng)影響
4.周圍無(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
5.無(wú)陽(yáng)光直接照射或其它熱源直接輻射
6.周圍無(wú)強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周圍空氣需要強(qiáng)制流時(shí)，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。
7.試驗(yàn)箱應(yīng)放置平穩(wěn)，保持水平。
8.試驗(yàn)箱的四周應(yīng)留有一定的距離，方便維修操
冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備的結(jié)構(gòu)特征
1.本設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。
2.箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼板，箱門中間設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗(yàn)情況。外型整體美觀大方。
3.保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細(xì)玻璃棉，具有強(qiáng)度高，保溫性有好等特點(diǎn)。本設(shè)備采用標(biāo)準(zhǔn)化多功能設(shè)計(jì)、有程序運(yùn)行和恒定運(yùn)行功能。主控制儀采用韓國(guó)進(jìn)口專用觸摸屏溫濕度控制儀，液晶LCD顯示，具有通訊接口，大容量程序，操作簡(jiǎn)單，用戶可自定義溫、濕度控制曲線進(jìn)行溫濕度試驗(yàn)。
4.升溫、降溫、加濕、去濕獨(dú)立，獨(dú)特的BTSC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。具有定時(shí)功能。
5.制冷系統(tǒng)采用全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)組，機(jī)械式單級(jí)制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。
6.加熱采用不銹鋼翅片加熱管，加濕采用不銹鋼加濕管，加濕方式為蒸汽加濕，水位自動(dòng)控制。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的:
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
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